PCT高压加速老化试验箱(Pressure Cooker Test)是一种通过模拟高温、高湿、高压环境加速产品老化的工业测试设备,主要用于评估电子元件、半导体封装等产品的密封性、耐湿性及可靠性?。
PCT高压加速老化试验箱(Pressure Cooker Test)是一种通过模拟高温、高湿、高压环境加速产品老化的工业测试设备,主要用于评估电子元件、半导体封装等产品的密封性、耐湿性及可靠性?。核心功能与原理
?环境模拟?:通过饱和蒸汽(100%RH)和高压(0.5~3.5kg/cm2)环境,加速材料吸湿、氧化等失效过程,快速暴露潜在缺陷(如爆米花效应、金属腐蚀)?。
?控制模式?:支持PCT(饱和蒸汽)和HAST(非饱和蒸汽)双模式,温度范围通常为110℃~132℃,最高可达147℃?。
技术参数
参数范围/特性
温度+110℃~+132℃(最高147℃)?
压力0.5~3.5kg/cm2(安全承压4kg/cm2)?
湿度100%RH饱和蒸汽?
内箱材质SUS316不锈钢,防结露设计?
应用领域
?半导体?:检测封装抗湿气能力(如芯片爆米花效应)?。
?汽车电子?:评估零部件在湿热条件下的耐久性?。
?新材料?:测试胶水、锡膏等材料的密封稳定性?。
安全设计
超压自动泄压、超温断电?;?。
门禁锁定系统及手动安全排压阀?。
注:部分型号支持自定义温湿度曲线,需根据测试标准


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